點(diǎn)缺陷 | 亮點(diǎn)、暗點(diǎn)、偏光片雜質(zhì)、漏光點(diǎn)、點(diǎn)狀異物等 |
線缺陷 | 亮線、暗線、淺線、偏光片線狀不良、線狀異物等 |
面缺陷 | 污斑、灰階、串?dāng)_、背光均勻性、凹痕、氣泡等 |
檢測(cè)指標(biāo) | 準(zhǔn)確率≧94.5%,過檢率≦5%,漏檢率≦0.5% |
檢測(cè)速度 | 3~6秒/畫幅 |
檢測(cè)精度 | 像素級(jí) |
屏幕規(guī)格 | 32’’~43’’,43’’~65’’,≥65’’ |
信息化支持 | 云端數(shù)據(jù)分析、上傳MES系統(tǒng)和質(zhì)量評(píng)估系統(tǒng) |
備注 | 該設(shè)備下游工位需留有人工復(fù)判工位 |